華普通用快訊丨理學X射線發射光譜儀XES Chimica

在過去幾十年中，X射線技術在材料表征領域得到廣泛應用。常見的X射線分析方法包括X射線熒光光譜（XRF）、X射線衍射儀（XRD）、X射線吸收譜（XAS）以及X射線熒光發射譜（XES）等技術。

XRF和XRD技術主要用于元素成分和物相分析，早已遍布研究機構和工廠的實驗室，但是XES和XAS往往需要到同步輻射站上才能測試。受限于同步輻射站數量非常有限，通常只有高精尖的研究才會測試XES和XAS。

近年來，經過不同的儀器廠商的努力開發，實驗室用的XAS和XES譜儀開始走入各研究機構的實驗室，研究人員在自己的實驗室就能快速篩查不同合成/反應條件、追蹤價態與自旋演變，實現價態分析的“實驗室自由"。

XES

X射線發射光譜(XES)是一種化學狀態分析方法，通過測量具有高能量分辨率的熒光X射線，可以顯示化合物成鍵狀態分布的變化。常規X射線熒光設備并不能分辨價態，主要是由于能量分辨率不足，通常不足以辨別價態變化引起的能級位移。

如上圖的Na2S2O3在熒光X射線分析中表現為單一峰。XES可以獲得反映化合物中以1:1的比例包含的S的-2價、+6價和α1、α2電子配位的微細結構。

XES Chimica

近期我司新推出升級了理學X射線發射光譜儀XES Chimica搭載了新開發的光學系統， 在不使用同步輻射光源的情況下，可以在實驗室環境中通過精細測量光譜的化學位移和譜線變化，高精度地評估分析材料的化學狀態。

該儀器配備了晶體自動轉換機制、樣品自動轉換機制，以及定量分析用軟件，具有高操作性和實用性。

XES Chimica的核心能力

1、能力范圍｜元素覆蓋廣，獲取體材料信息

覆蓋從氧 O 至鈾 U，輕重元素一機到位

體材料信息：毫米級面積內，探測深度約 1–1000 µm

寬域適用：目標元素濃度 0.1%–100%

2、性能精度｜分辨率與可靠性

超高分辨率，能夠捕捉價態的細微變化

穩定高重現，結果一致可靠

3、操作體驗｜數據更省心

軟件自動推薦測試參數，數據處理簡便，無需進行傅里葉變換

XES的超高分辨率

XES應用范圍

XES側重于探測材料中原子或離子的電子結構信息，如價態、配位環境及局部結構等。這種深層次的表征能力對于新能源材料中關鍵元素（如電極材料中的金屬離子及氧化態）的研究至關重要，從而幫助研究人員理解材料在充放電、老化和反應過程中的細微變化，為新能源材料的表征提供了新的視角。

本期內容就到這里，下期我們將介紹理學Chimica儀器在鋰離子充放電過程中的電極材料的價態變化。